在進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)的EFT/ESD測試時，把干擾脈沖從設(shè)備外部耦合到內(nèi)部，同時監(jiān)視設(shè)備的工作狀態(tài)。如果設(shè)備沒有通過這些標(biāo)準(zhǔn)的測試，測試本身幾乎不能提供任何如何解決問題的信息。

怎樣做好EFT/ ESD問題的測量和定位，并且要想定位被測物(EUT)對突發(fā)干擾敏感的原因和位置，必須進(jìn)行信號測量。但是如果采用示波器進(jìn)行測量的話，EUT內(nèi)部的干擾會產(chǎn)生變化。例如圖1中，使用金屬導(dǎo)線的探頭連接到示波器，會形成一個額外的干擾電流路徑，從而影響測試結(jié)果，很難定位產(chǎn)生ESD/EFT問題的原因。

圖1 用示波器測量EFT/ESD

怎樣做好EFT/ ESD問題的測量和定位，我們先要了解EFT/ESD干擾電路正常工作的機(jī)理。

在進(jìn)行EFT/ESD等抗擾度測試時，需要把相應(yīng)的突發(fā)干擾施加到EUT的電源線，信號線或者機(jī)箱等位置。干擾電流會通過電纜或者機(jī)箱，流入EUT的內(nèi)部電路，可能會引起EUT技術(shù)指標(biāo)的下降，例如干擾音頻或視頻信號，或者引起通信誤碼等；也可能引起系統(tǒng)復(fù)位，停止工作，甚至損壞器件等。

電子產(chǎn)品的抗干擾特性，取決于其PCB設(shè)計和集成電路的敏感度。電路對EFT/ESD信號敏感的位置，一般能被很好的定位。形成這些"敏感點(diǎn)"的原因，很大程度上取決于GND/VCC的形狀以及集成電路的類型和制造商。

實(shí)踐發(fā)現(xiàn)，怎樣做好EFT/ ESD問題的測量和定位，產(chǎn)生EFT/ESD問題的主要的原因是，干擾電流的主要部分會流入低阻抗的電源系統(tǒng)。干擾電流能通過直接的連接進(jìn)入GND系統(tǒng)，再由線路連接，從另外一個地方耦合出來；干擾電流也能通過直接連接進(jìn)入GND系統(tǒng)，然后通過和金屬塊(例如機(jī)箱)等物體的容性耦合方式，以電場的方式(場束)耦合出來。

圖2中，干擾脈沖電流I通過電纜或者電容滲透到PCB內(nèi)。由干擾電流產(chǎn)生電場干擾(電場強(qiáng)度E)或者磁場干擾(磁場強(qiáng)度B)。磁脈沖場B或電脈沖場E是影響PCB主要的基本元素，一般來說，敏感點(diǎn)要么僅對磁場敏感，要么僅對電場敏感。

干擾電流I通過電源線注入到設(shè)備內(nèi)部。由于旁路電容C的存在，一部分電流IA離開了被測物，內(nèi)部的干擾電流Ii被減少了。圖中所示的由干擾電流Ii產(chǎn)生的磁場B會影響它周圍幾厘米范圍內(nèi)的電路模塊，一般電路模塊內(nèi)只會有很少的信號線會對磁場B敏感。

需要注意，磁場不僅僅由電源線電纜上干擾電流I以及排狀電纜上的電流產(chǎn)生，旁路電容C的電流路徑以及內(nèi)部GND和VCC上的電流，會擴(kuò)大干擾范圍。

在電源系統(tǒng)(主要是GND)上流動的干擾電流，產(chǎn)生的很強(qiáng)的寬頻譜電磁場，能干擾其周圍幾厘米范圍內(nèi)的集成電路或者信號線，如果敏感的信號線或者器件，例如復(fù)位信號、片選信號、晶體等，正好放置在干擾電流路徑周圍，系統(tǒng)就可能由此引起各種不穩(wěn)定的現(xiàn)象。

一般情況下，一塊PCB上只會存在少量的敏感點(diǎn)，而且每個敏感點(diǎn)也會被限制在很少的區(qū)域。在把這些敏感點(diǎn)找出來，并采取適當(dāng)?shù)氖侄魏螅湍芴岣弋a(chǎn)品的抗干擾性能。

由此可見，怎樣做好EFT/ ESD問題的測量和定位，為了定位EUT不能通過EFT/ESD測試的原因，我們就必須首先找出這些突發(fā)干擾在系統(tǒng)內(nèi)部的電流路徑，再找出該路徑周圍存在哪些敏感的信號線和器件(敏感點(diǎn))，之后可以采取改善接地系統(tǒng)以改變電流路徑，或者移動敏感信號線和器件的位置等方法，從根本上以*低的成本解決EFT/ESD問題。

那要怎樣做好EFT/ ESD問題的測量和定位呢？那就要利用E1抗干擾開發(fā)系統(tǒng)定位EFT/ESD問題的方法，這個我們會在后面的文章中xiang詳細(xì)提及的。